Prof. Dr.-Ing. Stefan Butzmann

Tasnim Ben Mansour

Einsatz eines EMV-Scanners zum Aufspüren von Strahlungsquellen

Bei der EMV-Validierung elektronischer Geräte werden zum Auffinden der Quellen elektromagnetischer Strahlung häufig kommerzielle Messgeräte mit im Raum verstellbaren Messköpfen verwendet, die verschiedene Frequenzbänder automatisch absuchen können.Ein solches bei der Fa. Aptiv vorhandenes Messgerät soll mit anderen ähnlichen Geräten auf dem Markt verglichen werden, um seine Leistungsfähigkeit zu bewerten. Die Methodik und die theoretischen Grundlagen einer Messung an einem bereits im EMV-Labor vermessenen Beispiel-System sollen unter Verwendung des verfügbaren EMV-Scanners und anderer benötigter Testgeräte untersucht werden. Die mit dem Scanner erzielten Ergebnisse sollen dann mit den verfügbaren Messungen in einer EMV-Kammer (RE Antenne und Stripline) verglichen werden.
Dazu sind u.a. folgende Punkte zu bearbeiten:

  • Literaturrecherche
  • Methodik und theoretische Grundlagen einer EMV-Messung
  • Vergleich des Messgeräts mit anderen ähnlichen Geräten auf dem Markt
  • Erstellung des Messaufbaus für das gewählte Beispiel-Projekt
  • Vermessung des gewählten Beispiel-Systems auf PCB-Ebene und im geschlossenen Gehäuse
  • Ermittlung der Strahlungsquellen und der Abschirmwirkung des Gehäuses
  • Vergleich mit EMV-Kammermessungen
  • Bestimmung der Gültigkeit und Brauchbarkeit des Messgeräts für die betrachteten Testfälle
  • Untersuchung der Verbesserungsmöglichkeiten des Messverfahrens
  • Schriftliche Dokumentation der Ergebnisse und Präsentation in einem Seminarvortrag

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